嘉宾介绍
杨可欣，光焱科技股份有限公司，半导体事业部销售经理，天津大学硕士，拥有电化学材料的研究和技术背景，在研究工作基础上，加入光焱科技服务于CIS和LiDar设计制备企业。熟知芯片产业链流程以及各环节检测设备应用，擅长于协助企业及实验室提供精准量测的解决方案，并给予相关客户国际最新半导体咨询和技术协助。
企业名片
光焱科技Enlitech成立于2009年，是一家专注于光电半导体相关测试设备的研发、制造和销售的公司。 核心技术包括模拟光源控制和光电子晶片性能检测技术，我们提供高品质的测试设备和优质的售后服务，客户遍布全球各地，包括半导体制造商、光电产业、太阳能产业、汽车零件制造商等。
Enlitech的在光电芯片测试领域共有三大产品线：
1.各种检测用可调控光源，可整合客户现有检测设备，满足各种检测场景需求，可用于测试多种光感测器(如CIS、ALS、APD、PD、SPAD等)的性能和参数 ，亦可用于wafer level 的CP测试与WAT测试；
2.光电芯片性能检测解决方案产品线，可依照Emva1288标准，测试光电子芯片、图象传感器、激光雷达SPAD芯片等在不同光照条件下的性能和参数；
3.晶圆级光电芯片性能检测解决方案，能将光电子芯片、图象传感器、激光雷达SPAD芯片等检测推进至晶圆等级，协助客户及早掌握性能数据、降低封装成本、提高开发效率。
